IEEE Design & Test (D&T)
Availability: | Im Campus-Netz sowie für Angehörige der Universität auch extern zugänglich |
---|---|
Licensed Period: | IEEE Electronic Library (IEL) Universitätskonsortium: Jg. 30, H. 1 (2013) - ReadMe |
Fulltext: | http://emedien3.sub.uni-hamburg.de/ezb/start?ezbid=195195&title=IEEE+D… |
Homepage(s): | |
Fulltext available since: | Volume 30 , H. 1 (2013) |
Publisher: |
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) ; IEEE Computer Society Search publishers open access policy in SHERPA/RoMEO |
ZDB-ID: | 2714080-5 |
Subject(s): | |
Tag(s): | Computerstandards |
P-ISSN(s): | 2168-2356 |
Appearance: | Volltext, Online und Druckausgabe |
Costs: | kostenpflichtig |
Comment: | Bis 29.2012 u.d.T.: IEEE Design & Test of Computers (M-D&T) |
List of participate institutions which offer full access. |
Zur Fachübersicht
powered by EZB
Kontakt:
Öffnungszeiten: Mo-Fr 9-17
E-Mail:
auskunft@sub.uni-hamburg.de
Telefon:
+49 40/42838-2233
Telefax:
+49 40/42838-3352