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Hamburg, Carl von Ossietzky

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IEEE Design & Test (D&T)

Availability: Im Campus-Netz sowie für Angehörige der Universität auch extern zugänglich
Licensed Period: IEEE/IET Universitätskonsortium: Jg. 30, H. 1 (2013) -   ReadMe
Fulltext: http://emedien3.sub.uni-hamburg.de/ezb/start?ezbid=195195&title=IEEE+D
Homepage(s):
Fulltext available since: Volume 30 , H. 1 (2013)
Publisher: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) ; IEEE Computer Society
ZDB-ID: 2714080-5
Subject(s):
P-ISSN(s): 2168-2356
Appearance: Volltext, Online und Druckausgabe
Costs: kostenpflichtig
Comment: Bis 29.2012 u.d.T.: IEEE Design & Test of Computers (M-D&T)
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