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Hamburg, Carl von Ossietzky

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IEEE Design & Test of Computers (M-D&T)

Availability: Im Campus-Netz sowie für Angehörige der Universität auch extern zugänglich
Licensed Period: IEEE/IET Universitätskonsortium: Jg. 1, H. 1 (1984) - Jg. 29, H. 4 (2012)   ReadMe
Fulltext: http://emedien3.sub.uni-hamburg.de/ezb/start?ezbid=1282&title=IEEE+Des
Homepage(s):
Fulltext available since: Volume 1 , H. 1 (1984)
Fulltext available until: Volume 29 , H. 6 (2012)
Publisher: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) ; IEEE Computer Society
ZDB-ID: 2028644-2
Subject(s):
E-ISSN(s): 1558-1918
P-ISSN(s): 0740-7475
Appearance: Volltext, Online und Druckausgabe
Costs: kostenpflichtig
Comment: Ab 30.2013 u.d.T.: IEEE Design and Test (D&T)
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